Sursa xray microfocoasă

Cu unghi de radiație de 40 de grade și 90kV, inspectat pentru goluri, pantaloni scurți și pod de lipit.

Descriere

Descriere produs

DH - Kv9040 este o micro - focalizare x - sursă de rază integrată într -o singură unitate, dezvoltată independent și proiectată de Dinghua. Cu o tensiune maximă de 90kV și o rezoluție de imagine de 5-10 μm, este utilizată în principal pentru inspecția industriei electronice, cum ar fi ambalajele cu 4 planuri, testarea bateriei 3C, ambalaj BGA, LED și PCB.

Caracteristica produsului

*‌Design integrat‌ Pentru o demontare ușoară și instalare

‌* Rezoluție de imagine de 5-10μm‌ și ‌9,5 mm FOD‌, potrivit pentru rezoluție High -, High - Sisteme de imagistică de mărire

*Suport ‌Operațiune offline/online‌, ideal pentru expunere stabilă pe termen lung -

*‌ Industrie - Protocol de comunicare RS-232C standard‌ pentru o integrare ușoară

Parametrul produsului

X - RAY TUBE TUBE RAGABIL REGABIL (KV)	0~90
X - RAY TUBE RAGABIL REGABLE (μA)	0~200
Putere maximă a tubului (W)	8
Rezoluție de imagine* (μm)	5/10
X - unghi de radiație cu raze	40 de grade
Distanța focală/obiectivă minimă (FOD) (mm)	9.5
Greutate (kg)	≈10
Transmiterea datelor	RS-232C
Tensiune de intrare (V)	24
Consum de energie (W)	＜96W
Temperatura de funcționare (grad)	10~40
Temperatura de depozitare (grad)	0~50
Umiditatea operațională (%RH)	20~85
Umiditate de depozitare (%RH)	20~85
Conformitatea EMC	IEC/EN 61326-1
Versiunea sistemului de operare aplicabil	Windows 7, 10 și 11

Ilustrație pentru produse

Sursa noastră de raze microfocus x - este proiectată special pentru inspecția de precizie ridicată - a componentelor și ansamblurilor electronice.
Cu o tensiune maximă de tub de 90kV și curent de tub până la 200 um, oferă imagini de rezoluție clare, ridicate - pentru detectarea defectelor interne în plăci de circuit, semiconductori și alte materiale dense. Sistemul funcționează pe o tensiune de intrare de 24V, asigurând performanțe stabile și eficiente în mediile industriale.
Optimizat pentru aplicații cu microfocus, această sursă de rază X - oferă imagini ascuțite cu o distorsiune minimă, ceea ce o face deosebit de potrivită pentru inspecția îmbinată a soldului, detectarea fisurilor interne și identificarea defectelor structurale ascunse. Proiectarea sa compactă permite o integrare ușoară în sistemele de inspecție a PCB, menținând în același timp o ieșire stabilă. Combinația de putere de penetrare de 90kV și dimensiunea fină a microfocusului scurtează efectiv timpul de inspecție.

Microfocusul nostru x - sursa de raze (tensiune de funcționare 40–90kV) este un instrument versatil conceput pentru inspecția de precizie ridicată - de precizie a componentelor electronice și a pieselor metalice. Este aplicat pe scară largă în analiza PCB și a plăcii de bază, precum și în Die - inspecție de turnare pentru industria de telefon mobil, auto și aerospațială. Afișat în dreapta este un exemplu de Die - piese turnate dintr -un puț - producător de telefon mobil cunoscut. Cu acest sistem, pot fi identificate în mod clar defecte precum fisuri, pori, cavități de contracție, distribuție de materiale inegale și defecte structurale interne.

Sursa oferă un curent de tub maxim de 200 um, susținut de o tensiune de intrare stabilă de 24V, asigurând o funcționare fiabilă chiar și în medii solicitante. Proiectarea sa de microfocus produce imagini libere, distorsionate -, permițând inginerilor să analizeze cu precizie diferențele structurale subtile. Pentru aplicații electronice, este deosebit de eficient în inspecția comună de lipit, analiza cipurilor BGA și ambalajele cu semiconductor. Pentru părțile metalice, penetrarea sa puternică permite observarea profundăfărăcompromisClaritatea imaginii.

Cu designul său compact, sursa de raze de 40–90kV X - este ușor de integrat în sistemele de inspecție, oferind producătorilor o soluție puternică pentru controlul calității, cercetarea și dezvoltarea și analiza eșecului. Combinând detaliile de focalizare fină cu o penetrare puternică, îmbunătățește fiabilitatea inspecției, reducând în același timp timpul de inspecție.